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小原 祥裕; 三浦 幸俊; 木村 博信*; 小長井 主税*; 竹内 浩
Review of Scientific Instruments, 56(4), p.525 - 528, 1985/00
被引用回数:2 パーセンタイル:48.07(Instruments & Instrumentation)JT-60中性粒子入射加熱装置原型ユニットで発生される中性子ビームのエネルギースペクトルを、半導体検知器で直接的に測定した。求められたビーム成分比は、分光測定等の他の方法で求められたビーム成分比とよく一致し、JT-60NBI用イオン源のビーム成分比の再確認ができた。